-215ADSP28335系列实验仪
DSP28335系列实验仪;是针对高校、研究所的需求而研发的。以保证DSP能稳定独立运行、外设资源充分扩展为原则,优化结构设计,注重EMC处理,无论在设计还是在工艺上,均用心完成。实验箱为您提供了丰富的二次开发接口,能够为您的设计节约成本和时间。
TMS320F28335型数字信号处理器是TI公司的一款TMS320C28X系列浮点DSP控制器。与以往的定点DSP相比,该器件的精度高,成本低,功耗小,性能高,外设集成度高,数据以及程序存储量大,A/D转换更精确快速等。TMS320F28335具有150MHz的高速处理能力,具备32位浮点处理单元,6个DMA通道支持ADC、McBSP和EMIF,有多达18路的PWM输出,其中有6路为TI特有的更高精度的PWM输出(HRPWM),12位16通道ADC。得益于其浮点运算单元,用户可快速编写控制算法而无需在处理小数操作上耗费过多的时间和精力,从而简化软件开发,缩短开发周期,降低开发成本。
相比TMS320F2812,TMS320F28335具备更高的性价比。
F28335将F2812的EV分解成了相互独立的epwm,ecap,eq三个模块互相之间互不干扰,因此可以比较方便地实现复杂的信号输出。尤其是epwm相对于EV中的pwm输出功能,有了很大的提高。
F28335比F2812多了一个MAC单元,也就是速度增加了一倍。F28335是带浮点运算的,动态范围更大。
F2833x的执行速度,比相同时钟频率的F28xx系列定点芯片,快50%。处理数学运算性能提升2.45倍,控制算法性能提升1.57倍,DSP性能提升1.38倍。总体性能提升近2倍。
产品特点:
片上存储器:
FLASH:256K×16-位
SRAM: 34K×16-位
Boot ROM:8K×16-位
OTP ROM: 1K×16-位
其中FLASH、OTP ROM和16K×16-位SRAM受密码保护,保护用户程序。
片上外设:
ePWM: 12路
HRPWM:6路
QEP:2通道
SCI异步串口:3通道
McBSP同步串口:2通道
SPI同步串口:1通道
eCAN总线:2通道
2C总线: 1通道
DMA:6通道
ADC:2×8通道、12-位、80ns转换时间、0~3V量程
看门狗
-DSP28335配置设备:
1、配置SRAM,最大容量为512K×16位,基本配置为256K×16位
2、配置Nor FLASH,为512K×16位,型号为SST39VF800
3、配置NAND FLASH,为(256M+8M)*8BIT,型号为K9F2G08
4、配置12位串行DAC,型号为TLV5616
5、配置12864的液晶接口
6、配置RTC实时时钟+ 512×8-位EEPROM
7、配置符合USB2.0标准的高速SLAVE端接口CY7C68001,支持USB2.0高速和全速标准
8、1路SCI进行收发驱动,接口标准一路为RS232
9、1路eCAN进行收发驱动,符合CAN2.0协议
10、提供McBSP接口的音频驱动,为*C23
11、配置SD接口
12、配置485接口
13、配置直流和步进电机模块
14、配置32K的EEPROM
15、扩展12864外扩接口;
16、提供芯片复位,手动复位,电源测试点,按键,指示灯,启动模式拨码开关
17、标准的JTAG接口,方便调试
18、所有总线外扩
-DSP28335配DSP仿真器USB2.0 V2 主要特点:
1、USB2.0高速接口,理论传输速度达到480Mbits/s;
2、支持多种处理器:TMS320C28x、TMS320C54x、TMS320C55x、TMS320C64x+、TMS320C674x、ARM 9、ARM Cortex R4、ARM Cortex A8等;
3、具有完善的调试功能(连接/断开,读/写内存,读取寄存器,加载程序,运行、停止步骤,支持断点调试,实时模式);
4、具有完善的仿真功能,支持JTAG复位、等待再复位启动模式、上电复位启动模式,支持带FLASH的芯片的烧写(如C2000系列);
5、支持的Code Composer Studio v4(CCS4)及更高版本,注意XDS100 V2不支持CCS 3.3;
6、支持Windows XP、Windows Vista、WIN 7等版本的操作系统;
7、支持断电检测、支持自适应时钟;
8、14PIN的标准JTAG接口,支持TI芯片处理器;
9、USB接口和JTAG接口ESD保护设计,有效防止静电对仿真器和目标板的破坏;
实验程序清单(所有实验都有源代码,并且进行了详细的讲解。)
LED测试
GPIO控制LED
定时器控制LED
PWM控制LED
状态机控制LED
蜂鸣器测试
GPIO控制蜂鸣器
定时器控制蜂鸣器
按键控制蜂鸣器
蜂鸣器歌唱
TIMER0定时测试
TIMER控制LED
TIME控制数码管
TIME控制DMA
ExInt外部中断测试
中断控制LED
中断控制数码管
中断控制DMA
中断控制蜂鸣器
按键测试
按键控制LED
按键控制数码管
按键控制蜂鸣器
按键控制电机
串口测试
按键配合串口实验
数码管配合串口实验
中断串口实验
使用FIFO的串口实验
直流电机测试
直流电机转动原理
直流电机调速
PWM控制直流电机
直流电机左右转动
步进电机测试
步进电机转动原理
步进电机左右转动
按键控制步进电机转动
步进电机调速原理
步进电机转速数码管显示
AD转换测试
AD配合LED显示
AD用12864显示
*C23音频测试
*C23播放警报声
*C23播放回声
39VF800外扩FLASH测试
12864测试
12864绘图操作
12864显示字符操作
12864结合按键实验
12864配合ADC实验
EXRAM外部SRAM测试
CAN测试
CAN自测实验
外扩EEPROM读写测试
EEPROM基本读写
中断控制读写EEPROM
状态机控制读写EEPROM
RTC实时时钟测试
RTC实时时钟操作原理
RTC配合12864实验
串行DAC测试
串行DAC基本原理实验
DAC结合ADC实验
按键控制DAC
NAND FLASH测试
USB测试
SD卡测试